本文標(biāo)題："礦物的物理礦物含量樣品分析圖像顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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礦物的物理礦物含量樣品分析圖像顯微鏡
KIWi是為了把不同深度上的測(cè)井響應(yīng)轉(zhuǎn)變?yōu)榈V物含量比例和流體體積
而設(shè)計(jì)的一種計(jì)算機(jī)程序。用于這個(gè)目的的最典型的測(cè)井曲線是自然伽瑪
、聲波、密度和中子測(cè)井曲線。但是，自然電位、電阻率、自然伽瑪能譜
或其他測(cè)井曲線也可能被采用。測(cè)井曲線的選擇顯然受到可以得到的測(cè)井
曲線的限制。對(duì)于定義求解的組分系統(tǒng)的端元礦物的物理性質(zhì)必須作出某
些規(guī)定。其中，各種測(cè)井曲線對(duì)區(qū)分不同組分的靈敏度是對(duì)組分估計(jì)值精
度的重要控制。
環(huán)境影響，測(cè)量誤差和不精確的深度值是應(yīng)該通過(guò)測(cè)井曲線的校正和
調(diào)整來(lái)處理的問(wèn)題。這些預(yù)處理工作是在數(shù)據(jù)輸入KIWI程序之前進(jìn)行的。
對(duì)于非常規(guī)的測(cè)井曲線的應(yīng)用也應(yīng)該慎重考慮。例如，如果電阻率曲線作
為不含泥質(zhì)而含水地層組分分析的一種變量時(shí)，它的變化不僅受孔隙體積
的控制，而且受孔隙網(wǎng)絡(luò)的彎曲度的控制。因?yàn)槌绦蛱幚淼氖且粋€(gè)線性方
程組，所以在測(cè)井曲線與巖石組分變化之間的有效線性關(guān)系必須保證。阿
齊方程規(guī)定孔隙度不是電阻率的線性函數(shù)。但是，這個(gè)問(wèn)題可以通過(guò)使用
電導(dǎo)率的，N次根，而不直接用原始的電阻率加以克服。把測(cè)井響應(yīng)與組分
變量的關(guān)系線性化的預(yù)處理，對(duì)于其他測(cè)井曲線也是必要的。
程序要求的輸入內(nèi)容，在執(zhí)行語(yǔ)句之前的說(shuō)明語(yǔ)句中說(shuō)得很詳細(xì)。它
們是指被分析的井和層段名稱，測(cè)井曲線的數(shù)目、測(cè)井曲線的名稱和求解
的組分名稱，以及組分的測(cè)井系數(shù)。組分的數(shù)目必須比測(cè)井曲線數(shù)目多1。
，
用于分析的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)可能是以固定深度增量采樣的數(shù)字化記錄，也可
能是按不規(guī)則間隔讀出的峰、谷特征值。根據(jù)程序現(xiàn)在的形式，要求深度
值為整數(shù)，但是很容易改變成能處理深度值為實(shí)數(shù)的數(shù)據(jù)。設(shè)計(jì)的輸出是
在寬行打印機(jī)上。首先打印出井名、地層、測(cè)井曲線和組分名稱、以及組
分的測(cè)井系數(shù)等等信息。接著列出深度、測(cè)井讀數(shù)和求得的組分比例的數(shù)
值表。最后，各層組分在行式打印機(jī)上以字母圖形打出分析層段的剖面圖
。采用的字母和輸出啟動(dòng)時(shí)的鍵一致。當(dāng)輸入是由深度增量為1的數(shù)字化數(shù)
據(jù)組成時(shí)，圖的剖面是一個(gè)連續(xù)的字母序列。對(duì)于深度間隔不規(guī)則的讀數(shù)
，則根據(jù)深度畫出剖面的不同部分，并在夾層部分輸出空白。無(wú)論屬于哪
一種情況，通過(guò)連接每一種組分字母的序列，都可以畫出組分變化的連續(xù)
跡線。
KIWI程序是用FORTRAN IV寫成的。對(duì)于機(jī)器的依賴性已減到最小。重
要的例外是第三句，即‘FORMAT(V)’。這是Honeywell讀自由格式數(shù)據(jù)的
習(xí)慣。大多數(shù)計(jì)算機(jī)具有類似的習(xí)慣，但是采用不同的程序語(yǔ)句。
有經(jīng)驗(yàn)的程序員將會(huì)看出，KIWI的大部分是和輸入輸出功能有關(guān)的，
只有比較少的幾行是用于數(shù)學(xué)處理的。計(jì)算只涉及一個(gè)測(cè)井系數(shù)矩陣的轉(zhuǎn)
換和從測(cè)井讀數(shù)變到組分解的矩陣乘法。現(xiàn)在的六種組分和兩百個(gè)測(cè)井讀
數(shù)組的上限，通過(guò)改變定義的數(shù)組大小和DO循環(huán)語(yǔ)句的整數(shù)，很容易加以
擴(kuò)大。KIWI限于對(duì)確定系統(tǒng)求解。然而，通過(guò)與第六章敘述的矩陣算法相
結(jié)合，
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