本文標(biāo)題："砂巖地層孔隙度碳酸鹽巖樣品分析顯微鏡"
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砂巖地層孔隙度碳酸鹽巖樣品分析顯微鏡
利用測井儀器測量電阻率
在電阻率測井剛剛采用的初期，曾認(rèn)為當(dāng)時儀器所記錄的是被井穿透
地層的實(shí)際電阻率(及真)的準(zhǔn)確讀數(shù)。然而很快就認(rèn)識到，為得到準(zhǔn)確的
真電阻率值，需要對記錄值進(jìn)行一系列復(fù)雜因素的校正。所有電阻率儀器
都是記錄一個層段而不是孤立一點(diǎn)的電阻率，即得到的是某一范圍的“平
均”記錄。例如對于薄的高電阻率層，多數(shù)儀器記錄的電阻率值，由于鄰
近的導(dǎo)電地層的影響而被降低了。
比較清楚地認(rèn)識鉆井過程對井周圍地層電阻率的改變作用，對于建立
視電阻率和原狀地層電阻率之間關(guān)系的模型是很重要的。除了其他的作用
之外，鉆井泥漿在滲透地層的井壁上形成泥餅封閉。在泥餅形成過程中，
泥漿濾液進(jìn)入地層，取代地層水和油或氣。在緊靠近井壁的一個帶中，泥
漿濾液取代了全部地層水和任何?？蓜拥挠?rdquo;(“沖洗帶”)。在這一帶的
外面，是泥漿濾液部分取代地層水的“過渡帶”，泥漿濾液逐漸減少到某
一界限而過渡到原狀地層。這個現(xiàn)象叫做“侵入”，侵入深度大致是地層
孔隙度、滲透率的函數(shù)，孔隙度較小的地層(如典型的碳酸鹽巖)經(jīng)常比中
等孔隙度的地層(如典型的砂巖)侵入更深些。
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