本文標(biāo)題：" 質(zhì)譜儀用途不相同而采用的離子源也各不一樣"
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質(zhì)譜儀用途不相同而采用的離子源也各不一樣
各類質(zhì)譜儀由于用途不相同而采用的離子源也各不一樣。分析上最常
用的是高頻火花離子源和電子轟擊離子源。
高頻火花源適用于無機(jī)物的質(zhì)譜分析，它是在兩根相距根近的樣品電
極之間施加高頻高壓電，使樣品間因真空火花放電而產(chǎn)生強(qiáng)熱，繼而使試
樣氣化，電離、產(chǎn)生離子源。高頻火花源對各種元素的氣化效率和電離效
率基本上相同，所以特別適用于固體試樣的質(zhì)譜分析。在一次分析中，可
以把原子量從7到252的全部元素記錄在一張照相干板上， 所以可以同時(shí)
測定幾，．乎周期表中所有的元素。速度既快，耗樣又少。但是高頻火花
源由于能量太高，有機(jī)化合物的固有基團(tuán)將被破碎成較簡單的碎片，而不
能在質(zhì)譜圖中反映出來，因而不能用于有機(jī)化合物的分析?；鸹ㄙ|(zhì)譜靈敏
度很高，一般可達(dá)ppb數(shù)量級，比光譜分析普遍地高兩個(gè)數(shù)量級以上。即使
是非金屬也具有幾乎相同的靈敏度。缺點(diǎn)是正確度比較差。
電子轟擊源用能量為8一土00eV的電子束轟擊氣體試樣或試樣蒸氣而產(chǎn)
生帶正電荷的離子。固體試樣必須經(jīng)附加設(shè)備氣化后才能電離。但一般固
體試樣中各元素的氣化效率不易一致，蒸氣和固體的組成將有較大的差別
，所以電子轟擊源一般不用于固體試樣的分析。由于電子轟擊源能量低，
當(dāng)有機(jī)化合物電離時(shí)，其固有的基團(tuán)不致被全部破碎，在質(zhì)譜圖上將出現(xiàn)
較強(qiáng)的該基團(tuán)的譜線，因此很適合于研究有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)與組成。從電
子轟擊中產(chǎn)生的離子，其初始能量接近于零，經(jīng)加速后，離子的速度也較
一致。因此，既有電子轟擊源單聚焦質(zhì)譜儀，也有高分辨雙聚焦質(zhì)譜儀。
電子轟擊源還常用于同位素分析、氣體分析等
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