本文標(biāo)題："礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化-折射測量儀器"
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礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化-折射測量儀器
由于受硬度、解理、次生變化產(chǎn)物等因素的影響，許多礦物都具有各自固有的不同磨
光特征。它們造成了各礦物顯微起伏和表面結(jié)構(gòu)的微細(xì)差異，這些差異可以在干涉顯微
鏡下通過兩面拋光薄片來直接觀察。許多礦物的次生變化產(chǎn)物，如云母產(chǎn)生的枯土礦物，
在鏡下很容易鑒別。觀察時也可用普通的加蓋玻片的薄片。石英的干莎條紋直而平滑，
斜長石和云母的條紋則為鋸齒狀，故易于鑒別)，有時甚至不用去注意它們零條紋的
相對位置也很容易辨認(rèn)。
大家都知道，某一種礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化上。這種變化有時是
因為分異作用(例如斜長石斑晶相對于基質(zhì)成分的變化)，或者是由于反應(yīng)作用(環(huán)帶或者
反應(yīng)邊)而造成的。礦物折射率的任何細(xì)小變化都可由干涉條紋的位移情況而被反映出
來、被拍攝成照片而記錄下來。所以說，顯示著條紋位移分布狀況的礦物顯掀照相，可以
用于為電子探針分析選擇成分變化的區(qū)域。干涉顯微照相除了限定研究對象和為探針分
析定點的作用外，還能預(yù)示礦物預(yù)粒內(nèi)部化學(xué)成分變化的趨勢。
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