本文標(biāo)題："全息照像立體測(cè)量計(jì)數(shù)簡(jiǎn)介-光學(xué)影像測(cè)量顯微鏡"

全息照像立體測(cè)量計(jì)數(shù)簡(jiǎn)介-光學(xué)影像測(cè)量顯微鏡

利用干涉測(cè)量法進(jìn)行立體測(cè)量，叫做全息照像干涉測(cè)量技術(shù)。
    我們來探討一下它的實(shí)質(zhì)。
    如果把全息圖放在它原來曝光的地方，而將物體拿走，則曝光時(shí)
由物體散射的光波可以再現(xiàn)。如果不拿走物體，那么可以看到兩個(gè)光
波：一個(gè)是由物體直接散射的，另一個(gè)是全息圖再現(xiàn)的。

    這些光波發(fā)生相干而且可能干涉。如果在攝取全息圖和觀察物體
之間的間隔時(shí)間內(nèi)，發(fā)生了某些變化，例如發(fā)生了變形，它立刻就反
映到被觀察的圖象一物象上，顯示出分裂的干涉條紋。這樣，就可以
使不同時(shí)間形成的兩個(gè)光波互相干擾。

    全息照像干涉測(cè)量技術(shù)，可以研究任何形狀和任何光學(xué)性質(zhì)的物
體。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)的光波是由被研究物體本身在原始狀態(tài)造成的，而干涉
圖象是由那些和物體一起發(fā)生的幾何形狀變化和相位變化所決定的。

    如果在記錄全息圖之后，物體表面沒有發(fā)生顯著的變化，則可以
見到那些相當(dāng)于物體在空間位置變化的正規(guī)干涉圖象。這些變化是與
物體一起發(fā)生的。如果物體表面形狀有顯著的變化，就不能看到這些
干涉條紋。因?yàn)橛梢稽c(diǎn)到另一點(diǎn)的光程變得雜亂無章了，所以相應(yīng)的
干涉圖象的組織也是不規(guī)則的，它的空間頻率很高。由于這個(gè)原因，
以及物體在兩個(gè)比較狀態(tài)中，其表面形狀發(fā)生明顯的變化時(shí)，例如，
表而上涂了漆或經(jīng)過化學(xué)腐蝕時(shí)，全息照像干涉測(cè)量技術(shù)就不能比較
各種發(fā)散的透明物體和反射物體了。但是，當(dāng)物體表面形狀發(fā)生變化
時(shí)，可利用減少條紋的對(duì)比度，來觀察這種變化的特性，例如，用于
觀察腐蝕過程。
 

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