本文標(biāo)題："礦物測量光學(xué)顯微鏡,晶體微觀分析儀器"

礦物測量光學(xué)顯微鏡,晶體微觀分析儀器

滑移片可以任意滑動(dòng)，則是晶體外形發(fā)生旋轉(zhuǎn)，
而滑移面和滑移向不變，滑移后，晶體只有形態(tài)的改變
而無光性方位的改變;若兩端被固定，晶體不旋轉(zhuǎn)，

其滑移面和滑移系卻發(fā)生了轉(zhuǎn)動(dòng)，這樣變形后的礦物集合體
不僅形成了形態(tài)優(yōu)選方位，也形成了光性的優(yōu)選方位。

在光學(xué)顯微鏡下，單個(gè)晶體滑移后晶格的方位并不變，
不能產(chǎn)生可見的效應(yīng)，只有在某些特殊情況下，
才可以看到滑移線或其他異常條紋，如沿滑移線吸附、充填有雜質(zhì)等。

后一篇文章：土壤分析顯微鏡廠商,磚紅壤的特征簡介 »
前一篇文章：« 鑄件檢測金相顯微鏡,鑄件表面檢測儀器

tags:技術(shù),精密儀器,金相顯微鏡,上海精密儀器,

礦物測量光學(xué)顯微鏡,晶體微觀分析儀器,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：/gxnews/1209.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/